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問題解説 ＞ 各種超音波探傷法（表面波法・TOFD法・端部エコー法）
超音波探傷 UT レベル2 ／ 4択次の文は、各種超音波探傷法について述べたものである。正しいものはどれか。
非破壊検査（NDT）レベル2 UT過去問の解説。カテゴリ：各種超音波探傷法（表面波法・TOFD法・端部エコー法）
問題
次の文は、各種超音波探傷法について述べたものである。正しいものはどれか。
- 1. 表面波法では、試験周波数を高くすると、低い周波数のときより超音波は探傷面から深い位置を伝搬する
- 2. TOFD法は回折波を利用するので、回折波が発生しやすいように振動子寸法を大きくする必要がある
- 3. 端部エコー法では、通常の探触子でも十分感度を上げて探傷すれば、集束探触子と同じ程度の測定精度が得られる
- 4. 一般の斜角探傷法はきずの傾きや形状の影響を強く受けるが、TOFD法による探傷ではそれらの影響を受けにくい
正解
4番
TOFD法は、きずの傾きや形状の影響を受けにくい
解説
① TOFD法のしくみ
- 送信・受信の2探触子を向かい合わせに置く
- きずの上下端で生じる回折波の到達時間差を測る
- エコー高さでなく「時間」で測る→傾き・形状に強い
② 他の選択肢はなぜ違う
- 1番：表面波は約1波長の深さに集中。高周波ほど浅い（逆）
- 2番：上下方向の指向角を大きくしたい→振動子は小さい方がよい
- 3番：回折波は非常に弱い→端部エコー法では集束探触子を使う
③ 何を測る方法かで整理する
- 斜角探傷法：きずの位置と指示長さ（エコー高さで評価）
- 端部エコー法・TOFD法：きずの高さ（回折波で評価）
- 表面波法：表面近くの開口きず（探傷面のごく浅い層）
まとめ
TOFD法＝上下端の回折波の時間差できず高さを測る → きずの傾き・形状の影響を受けにくい
関連規格：JIS Z 2300（非破壊試験用語）／JIS Z 2344（超音波探傷試験方法 通則）
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